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国产开尔文探针，性能全面对标美国 APT，采用四线制开尔文设计，低漏电、低噪声、接触稳定，适配晶圆测试与半导体参数分析。高精度、长寿命、交期快，打破进口依赖，提供高性价比国产替代方案，助力半导体测试自主可控。
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