Air Coplanar Probe (ACP) 是一款坚固耐用的微波探头，带有兼容的尖端，可为晶圆上和信号完整性应用提供准确、可重复的测量。它具有出色的探头尖端可见性和最低的可用损耗。ACP 探头在探测非平面表面时具有出色的顺应性。这些探头提供稳定且可重复的过温测量，在金焊盘上的典型探头寿命为 500,000 个触点。提供用于单信号和双信号应用的配置。ACP 探头结合了出色的电气性能和精确的探头机械结构，是当今使用最广泛的微波探头。间距可分为100、125、150、200 和 250 µm
ACP系列：
Air Coplanar Probe (ACP) 是一款坚固耐用的微波探头，带有兼容的尖端，可为晶圆上和信号完整性应用提供准确、可重复的测量。它具有出色的探头尖端可见性和最低的可用损耗。ACP 探头在探测非平面表面时具有出色的顺应性。这些探头提供稳定且可重复的过温测量，在金焊盘上的典型探头寿命为 500,000 个触点。提供用于单信号和双信号应用的配置。ACP 探头结合了出色的电气性能和精确的探头机械结构，是当今使用最广泛的微波探头。间距可分为100、125、150、200 和 250 µm
主要特征：
- 独特的空气共面尖端设计，可选择铍铜 (BeCu) 或钨尖端材料
- DC 至 110 GHz 型号提供单线和双线版本
- 超低损耗 (-L) 版本的低插入和回波损耗
- 出色的串扰特性
- 宽工作温度 -65°C 至 +200°C
- 提供多种间距，从 50 到 1250 µm
- 单独支持的联系人
- 用于小焊盘的减少接触 (RC) 探针尖端
- BeCu 尖端在金焊盘上提供坚固、可重复的接触
INFINITY系列（I系列）Infinity 探针非常适合器件特性分析和建模，其兼具极低的接触电阻（在铝pad上）和RF 测量精确度，可实现高度可靠的可重复测量。专有的薄膜和同轴探针技术减少了与相邻器件的不必要耦合和传输模式
主要特征：
- 光刻薄膜结构
- 卓越的抗干扰特性
- 抗氧化镍合金探针针尖
- 创新的力传递机理
- 可提供 40GHz、50GHz、67GHz、110GHz 和 145GHz 连接器
- GSG、SG、GS、GSGSG、GSSG、SGS 配置
- 50 µm 至 250 µm 间距（可根据客户要求提供其他间距）
- 可提供高电流版本 (2A)
Z-PCB系列
灵活性对于实现高效 PCB 和陶瓷测试是很关键的。|Z| Probe® PCB 的对准和处理很简单，而且可以容易地定位。它以最佳的方式替代了常常缺乏灵活性的昂贵测试夹具。稳健的设计可使 |Z| 探针 PCB 易于处理，并提供了长工作寿命（通常超过 100 万次接触测试）。
|Z| 探针 PCB 的平面针尖具有精确计算的并联、单独的接触弹簧，这些弹簧彼此独立地移动，因而可与 DUT 实现精确、快速和简单的接触，即使存在显著的接触高度差也不例外。|Z| 探针 PCB 的这种独特特性以及非常稳健的整体设计确保了长寿命和简单的处理。
当与包括探针定位器和校准片的手动探针系统一起使用时，|Z| 探针 PCB 就成为了适合所有 RF 电路探查需求的最佳工具
主要特征：
- 用简单易用的探针针尖取代了昂贵且缺乏灵活性的测试夹具
- 长寿命 —— 通常超过 100 万次接触测试
- GS/SG 的工作频率高达 4 GHz，GSG 的工作频率则高达20 GHz
- 高功率 RF 测试：高达 30 W
- 可在 -60°C 至 200°C 的温度范围内进行测试
