美国APT开尔文探针适用于四线法测试，以减小线阻和接触电阻对测试的影响，保证小电阻的测试准确性。另外，一些PIV高频测试，比如150M左右，也可以采用这个。
美国APT：开尔文探针臂和探针美国APT开尔文探针探针杆和探针适用于四线法测试，以减小线阻和接触电阻对测试的影响，保证小电阻的测试准确性。另外，一些高频测试，比如150M左右，也可以采用这个。（可选500M）
开尔文探针臂和探针规格（74CJ系列为探针臂，73CT系列为开尔文探针） 常用型号：74CJ-APT-KS/15（其他型号：74CJ-APT-KS/05、74CJ-APT-KS/10、74CJ-APT-KS/50等）
主要参数：
•品牌：美国APT
•探针臂自带一根探针，针尖半径1.5um
•探针做热补充处理，防止变温实验时探针产生位移离开样品接触点
•双SSMC接头，同轴Kelvin开尔文设计
•两组探针可实现四线法连接，进行IV/CV/PulseIv测量
•可替换针尖，常用针尖半径有1.5/5.0/10.0 um等（附详细规格图）
•直流小信号测量电流精度<10fA
•LCR测试<1OfF
•时序信号完整性测试
•脉冲激发/测量，脉冲小信号测量时间精度10ns，频率≥150 MHz（另有500MHZ可选）
开尔文探针规格和实物图
| 型号 |
测试频率 |
针尖半径 |
规格 |
| 73CT-APTA/05 |
≥150M |
0.5um |
5pc/box或10pc/box |
| 73CT-APTA/10 |
≥150M |
1.0um |
5pc/box或10pc/box |
| 73CT-APTA/15 |
≥150M |
1.5um |
5pc/box或10pc/box |
| 73CT-APTA/50 |
≥150M |
5um |
5pc/box或10pc/box |
| 73CT-APTA/100 |
≥150M |
10um |
5pc/box或10pc/box |
| 73CT-APTA/150 |
≥150M |
15um |
5pc/box或10pc/box |
| 73CT-APTA/500 |
≥150M |
50um |
5pc/box或10pc/box |
原理图和实物搭配图
