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防静电Peek卡盘

专为高端探针台精密测试打造，采用防静电 PEEK 材质一体成型，优异绝缘与抗静电性能，杜绝静电击穿与信号干扰。耐高温、低形变、高平整，适配晶圆精准吸附定位，有效提升测试稳定性与良率，是半导体晶圆检测的理想承载方案。

•直径：4英寸， 6英寸，8英寸， 12英寸可选
•卡盘平整度：±5µm（可用于搭载半自动和全自动探针台）
•材质：高品质防静电Peek材料
•吸附形式：多孔吸附，每个真空通道均独立控制
•接受定制

配合探针台实物图：

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